Eed H e Zihlif AM
Características da dispersão dielétrica em nanocompósitos epóxi/poliédricos de silsequioxano oligomérico
A análise de arco múltiplo é usada em conjunto com uma distribuição de tempo de relaxamento generalizada (GRTD) para derivar constante dielétrica , perda dielétrica e relações de condutividade CA como função de frequência para nanocompósitos de epóxi/oligomericilsequioxano poliédrico (POSS) . A validade desta metodologia é examinada comparando as medições relatadas com aquelas calculadas a partir das relações obtidas. Os valores são mostrados para concordar satisfatoriamente na faixa de frequência de 100 kHz a 1000 kHz.
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